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QJ84E手持式低電阻測(cè)試儀詳細(xì)參數(shù)
點(diǎn)擊次數(shù):261 更新時(shí)間:2024-03-25

QJ84E手持式低電阻測(cè)試儀詳細(xì)參數(shù):

1、 抗沖擊,當(dāng)儀器受到反電動(dòng)勢(shì)沖擊時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)切斷測(cè)試環(huán)路。

2、 運(yùn)用新的抗干擾技術(shù),有效防1/f噪聲,能在1A的測(cè)試條件下穩(wěn)定分辨到0.1μΩ。

3、 整機(jī)采用進(jìn)口低漂電阻設(shè)計(jì),穩(wěn)定性好,基本精度高達(dá)0.05%。

4、 低功耗設(shè)計(jì),能在1A測(cè)試工作電流下,連續(xù)工作6~7小時(shí)。

5、 電源兼容鋰電池和干電池,不受限于航空運(yùn)輸。

6、 專(zhuān)業(yè)針對(duì)線(xiàn)纜行業(yè),增加了線(xiàn)纜長(zhǎng)度測(cè)試功能和材料溫度補(bǔ)償功能,可應(yīng)用于整盤(pán)線(xiàn)纜測(cè)試。

7、 專(zhuān)業(yè)針對(duì)電機(jī)和變壓器的溫升試驗(yàn),增加了時(shí)間間隔自動(dòng)電阻記錄功能和溫度逆向推算功能。

基本參數(shù)>>

測(cè)試參數(shù)

直流電阻

基本參數(shù)

測(cè)試范圍:0~3.3MΩ   讀數(shù):33000   分辨率:0.1μΩ

基本準(zhǔn)確度

0.5%±8讀數(shù)(3mΩ),0.1%±8讀數(shù)30mΩ,300mΩ),0.05%±3讀數(shù)(300mΩ~300kΩ),0.2%±8讀數(shù)(3MΩ)

量程

3mΩ/30mΩ/300mΩ/3Ω/30Ω/300Ω/3kΩ/30kΩ/300kΩ/3.3MΩ

測(cè)試速度

5次/秒(平均次數(shù)可選)

測(cè)試電流

1A DC

溫度

范圍:-10~60℃ 精度:1

校正

全量程內(nèi)短路清零

 比較器

實(shí)現(xiàn)HIGH/IN/LOW 分選

校正

全量程內(nèi)短路清零

內(nèi)部數(shù)據(jù)保存

可記錄6000組測(cè)試數(shù)據(jù)

觸發(fā)器

內(nèi)部觸發(fā)、自動(dòng)觸發(fā)

其它功能

OVC(熱電勢(shì)補(bǔ)償功能),材料溫度補(bǔ)償功能,導(dǎo)體長(zhǎng)度測(cè)試功能,
自動(dòng)觸發(fā),自動(dòng)保存,自動(dòng)保存功能

接口

USB接口 外部觸發(fā)口

供電

12V/1700 mAh 鋰電池 8節(jié)AA干電池

尺寸與重量

外尺寸(mm):208(長(zhǎng))x52(厚)x120(高) 重量:0.81kg

附件

 DT11測(cè)試夾\測(cè)溫探頭\鋰電池\充電器

使適合量程的恒電流從SOURCE B 端子流入SOURCE A 端子,測(cè)量SENSE B端子與SENSE A 端子之間的電壓。用得到的電壓值(V)除以流過(guò)的恒電流值(I ),求出電阻值(R=V/I )。(A、B)

• 恒電流源與電壓計(jì)采用不易受接觸電阻影響的電路構(gòu)成。

• 測(cè)量期間監(jiān)視恒電流是否正常地流入被測(cè)對(duì)象。(C)

• 在電阻測(cè)量的同時(shí),利用熱敏電阻溫度探頭(Z2002溫度探頭)測(cè)量溫度。本儀器可利用測(cè)量的溫度來(lái)補(bǔ)償電阻值。(D)

• USB作為Mass storage device進(jìn)行動(dòng)作??赏ㄟ^(guò)簡(jiǎn)單的操作將數(shù)據(jù)讀入計(jì)算機(jī)。(E)

• 通過(guò)安裝L2105比較器判斷燈,無(wú)需觀(guān)看主機(jī)上的顯示即可獲知判定結(jié)果。

• 本儀器的電源為8 節(jié)5 號(hào)堿性電池。小型緊湊,可利用1 A 的大電流進(jìn)行測(cè)量,分辨率等級(jí)達(dá)到0.1μΩ。(A、G)

要高精度地測(cè)量低電阻時(shí),連接測(cè)量?jī)x器與探頭的配線(xiàn)電阻、探頭與被測(cè)對(duì)象之間產(chǎn)生的接觸電阻成為最大的障礙。

配線(xiàn)電阻會(huì)因粗細(xì)或長(zhǎng)度而有很大差異。比如,用于電阻測(cè)量的電纜,AWG24(0.2 sq)約為90mΩ/m、AWG18(0.75 sq)約為24mΩ/m。

接觸電阻在很大程度上受探頭磨損狀態(tài)、接觸壓力或測(cè)量電流的影響。即使在接觸良好的狀態(tài)下也有數(shù)mΩ,有時(shí)也會(huì)達(dá)到數(shù)Ω。

因此,為了可靠地測(cè)量較小電阻,采用 4 端子測(cè)試法。

采用 2 端子測(cè)量時(shí)(圖1),測(cè)試線(xiàn)自身的導(dǎo)體電阻會(huì)被加算到被測(cè)對(duì)象電阻上,從而造成誤差。

4 端子測(cè)量(圖2)采用的是供給恒電流的電流源端子(SOURCE A、SOURCE B)與檢測(cè)電壓下降的電壓檢測(cè)端子(SENSE A、SENSE B)的結(jié)構(gòu)。

由于電壓計(jì)的輸入阻抗較高,因此與被測(cè)對(duì)象連接的電壓檢測(cè)端子側(cè)導(dǎo)線(xiàn)幾乎不會(huì)流過(guò)電流,這樣就可進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,而不會(huì)受到測(cè)試線(xiàn)電阻或接觸電阻的影響。